| Resumo: | Neste trabalho foi estudado o método sol-gel aplicado na preparação de vidros silicatos contendo oxicloreto de Molibdênio (MoOCl4) como precursor do óxido de Molibdênio (MoO3) e tetraetoxisilano (TEOS) como precursor do óxido de silício (SiO2). O processo sol-gel é uma rota sintética que produz, em baixas temperaturas, vidros com pureza e homogeneidade equivalentes aos processos de produção tradicionais que utilizam fusão e resfriamento. Os vidros foram preparados variando-se a razão molar do sistema binário MoO3/SiO2. Para o preparo do precursor através da metodologia do refluxo variou-se a proporção molar do MoO3 de 1,00% a 15,00%. Após a incorporação do precursor e do íon terra rara Érbio à matriz vítrea e secagem completa, foram feitas análises espectroscópicas por reflexão na região do UV-VIS das amostras sob a forma de monolito pulverizado. Essa caracterização permitiu comprovar a maior absorção da luz nas amostras que apresentavam maior razão molar de MoO3. Além disso, o método sol-gel foi empregado na obtenção de filmes finos do compósito MoO3-SiO2 visando sua aplicação óptica, uma vez que os compósitos obtidos são bastante homogêneos e a quantidade de sílica controla o crescimento do óxido metálico, culminando em diferentes propriedades para o material. Os filmes foram preparados a partir da mesma solução e depositados em subtratos sólidos utilizando a técnica de spin-coating, com velocidades de 2000, 3500 e 5000 rpm. Os filmes foram secos a uma temperatura de 100 °C e posteriormente tratados termicamente a 140 °C, 280°C e 450 °C. Após esse processo as amostras também foram sujeitas a caracterização por espectrofotometria na região do UV-VIS-NIR a fim de se verificar as condições que conferiam maiores bandas de absorção. Foi identificada uma absorção mais significativa nas amostras contendo 15,00% de óxido de Molibdênio, depositadas a uma rotação de 5000 rpm e tratadas a 280 °C. As bandas identificadas podem ser principalmente atribuídas à redução do Mo VI para centros de Mo V, bem como às transferências de carga associadas ao oxigênio e ao metal de ligação. Assim, outras análises devem ser feitas para comprovar a possível aplicação desses filmes em óptica e fotônica. |